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吉原 亮平; 長谷 純宏; 滝本 晃一*; 鳴海 一成
no journal, ,
220MeVのカーボンイオン(220MeV C),線、そして停止直前のLETがブラッグピーク付近のカーボンイオンをシロイヌナズナ種子に照射して、変異スペクトル解析を行った。変異の検出は、遺伝子導入シロイヌナズナによる変異検出システムを用いた。220MeV Cと線はともにG:C to A:T transitionとdeletionを効率的に誘発することが示された。さらに220MeV Cでは、complex typeの変異が線よりも多く見られた。線では、フレームシフト変異が多く検出されたが、220MeV Cではフレームシフトはバックグラウンドレベルであった。ブラッグピーク付近のカーボンイオンを用いた予備実験では、変異頻度に有意な上昇が見られなかった。ブラッグピーク付近のカーボンイオンは、細胞の致死効果が高く、375bpの遺伝子領域を用いた本システムでは、変異を検出できない可能性が示唆された。